恩德斯豪斯推出Endress+Hauser Levelflex FMP55 多參數(shù)界面測量儀
FMP55多參數(shù)界面測量儀是業(yè)界首款集導波雷達和電容測量原理于一體,專門用于界面高精度測量的物位儀表。該產品革命性的測量方案一舉解決了現(xiàn)有測量手段應對復雜界面檢測固有的限制,真正實現(xiàn)了一臺儀表“全工況”界面測量:精度高、穩(wěn)定性好、重復性優(yōu)異的目標。除了設計理念的革新,該產品在研發(fā)之初即充分考慮到現(xiàn)場應用、實際維護與實時測量的復雜性與多變性,在結構設計、軟件運算和數(shù)據(jù)維護等方面進行了全面的升級和提高。
在結構設計上,F(xiàn)MP55采用了同軸探頭搭配雙腔殼體。同軸型結構既保證構成穩(wěn)定的電容測量,也實現(xiàn)了導波雷達測量低介電常數(shù)介質液面的要求,確保液面和界面測量更穩(wěn)定、更精準。本安的電子腔室與隔爆的電源腔室相互隔離,確保在防爆場合亦可以打開電子腔室進行儀表操作??尚D360度的表頭以及具備45度仰角的顯示窗口,極大的便利了現(xiàn)場接線、調試等操作。不僅如此,F(xiàn)MP55還采用了先進的技術,實現(xiàn)更換電子插件后不再需要重新調試和設置參數(shù),一分鐘即可做到儀表重新恢復到正常工作狀態(tài)。解決了用戶不會調試的后顧之憂,大大方便了用戶。由于FMP55實現(xiàn)了高度的數(shù)字化和智能化,內部預置了豐富的高級預診斷功能,為儀表安全可靠運行提供了保障。
在液位和界面信號識別方面上,F(xiàn)MP55運用了靜態(tài)和動態(tài)算法相結合的專利算法,能動態(tài)跟蹤并記錄界面回波的歷史運動軌跡,精確定位出界面的位置。更先進的設計是:當被測界面由于各種原因變得不清晰時,如出現(xiàn)乳化層時,為了應對導波雷達在這種情況下會發(fā)生失波的可能,儀表內部的智能界面信號識別系統(tǒng)會不斷評估當前界面回波的質量,利用電容測量值進行自動補償,確保持續(xù)穩(wěn)定測量,從而實現(xiàn)了“全工況”的界面測量。
總之,F(xiàn)MP55克服了電容和導波雷達單獨測量界面的局限性,充分發(fā)揮了二種測量原理的優(yōu)勢,結合先進算法實現(xiàn)了復雜工況下的界面測量,開創(chuàng)了界面測量的先河,為自動化領域的界面測量增添了一種全新的、更為可靠、穩(wěn)定的解決方案。
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